一、分析LED在不同殼溫/結(jié)溫下的光色電綜合特性
采用世界領(lǐng)先的光譜儀技術(shù),可測量單顆LED、集成封裝COB、LED模組等產(chǎn)品在不同殼溫/結(jié)溫下的光色電綜合特性。
二、測試精度高、速度快
核心設(shè)備獲國家863計劃研究成果、美國專利授權(quán)、“中國專利優(yōu)秀獎”、“國家首批自主創(chuàng)新產(chǎn)品”、“國家重點新產(chǎn)品”等榮譽。
三、可實現(xiàn)脈沖模式和恒流模式測量
搭配遠(yuǎn)方專用測試電源可實現(xiàn)LED的瞬態(tài)光學(xué)特性測量(脈沖測量)及穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性測量(直流測量)。