亞微米工藝集成電路電路測(cè)試;
線性,無(wú)后座力移動(dòng);
可以配合同軸/三軸探針夾具使用;
夾具可以30度范圍傾仰;
可以使用鎢探針;
可以配置為東/南/西/北四個(gè)方向的射頻針座;
射頻測(cè)試能力;
直流到40GHz~120GHz;
可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件;
探頭接口和線纜45度連接,無(wú)需L型轉(zhuǎn)接頭;
探頭可以拆卸維修;
帶射頻測(cè)試線固定裝置