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直觀(guān)的圖形化界面設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化了參數(shù)配置及I-V測(cè)試分析過(guò)程
支持從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行到結(jié)果分析、數(shù)據(jù)管理的整個(gè)表征過(guò)程
針對(duì)MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型測(cè)試項(xiàng)，快速調(diào)用
自動(dòng)化測(cè)試序列功能，連續(xù)執(zhí)行器件多個(gè)參數(shù)測(cè)試
自動(dòng)生成I-V曲線(xiàn)及運(yùn)行結(jié)果參數(shù)，加速曲線(xiàn)特性分析
多通道同步快速測(cè)試模式，最高支持32CH待測(cè)物同時(shí)在線(xiàn)測(cè)試
直觀(guān)的測(cè)試報(bào)表，將測(cè)試數(shù)據(jù)及圖表保存于數(shù)據(jù)庫(kù)并可導(dǎo)出excel
強(qiáng)大的圖表在線(xiàn)分析功能，支持曲線(xiàn)縮放、區(qū)域標(biāo)記、切線(xiàn)等分析工具
可搭配IT2800系列SMU，分辨率最高可達(dá)100nV/10fA
