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方/HAAS-30002000 高精度快速光譜輻射計(jì)（實(shí)驗(yàn)室級(jí)）.png)
| 型號(hào) | HAAS-3000-VIS | HAAS-2000-UV | HAAS-2000-VIS | HAAS-2000-IR1 | HAAS-2000-IR2 | ||||
| 波長(zhǎng)測(cè)量范圍 | 380-780nm | 200-450nm | 380-780nm | 780-1650nm | 1600-2550nm | ||||
| 半峰帶寬 | 2.0nm | 1.0nm | 2.0nm | 9.0nm | 15.0nm | ||||
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | ±0.2nm | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm | ||||
| 色品坐標(biāo)準(zhǔn)確度 | ±0.0015(標(biāo)準(zhǔn)色光下) | / | ±0.0015(標(biāo)準(zhǔn)色光下) | / | / | ||||
| 色品坐標(biāo)重復(fù)性 | ±0.0003(標(biāo)準(zhǔn)A光源下)±0.00015x±0.0002y(恒溫藍(lán)光LED) | / | ±0.0003(標(biāo)準(zhǔn)A光源下)±0.00015x±0.0002y(恒溫藍(lán)光LED) | / | / | ||||
| 色溫范圍 | 1000-100000K | / | 1000-100000K | / | / | ||||
| 雜散光 | ≤5E-5 | ≤1E-3 | ≤5E-5 | ≤1E-3 | ≤1E-3 | ||||
| 測(cè)量積分時(shí)間 | 9ms-60s | 9ms-60s | 9ms-60s | 20ms-10s | 1ms-60ms |
產(chǎn)品獲國(guó)家研究成果及多項(xiàng)榮譽(yù)
低雜散光通過(guò)改良設(shè)計(jì)后高度匹配的高精度光柵和科學(xué)級(jí)制冷型陣列探測(cè)器，并利用BWCT技術(shù)和修正的NIST雜散光校正技術(shù)，其雜散光達(dá)到5.0E-05的極低水平。
寬線性動(dòng)態(tài)范圍與普通陣列探測(cè)器相比，HAAS-3000/2000中的科學(xué)級(jí)陣列探測(cè)器具有更寬的線性動(dòng)態(tài)范圍，再經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光學(xué)匹配和遠(yuǎn)方的SBCT專利技術(shù)，使儀器的動(dòng)態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。
快速測(cè)試HAAS-2000/3000不僅可以測(cè)量光源的穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性，也可以測(cè)量光源的瞬態(tài)光學(xué)特性，即使被測(cè)光源瞬態(tài)脈沖小于微秒，儀器均可通過(guò)同步觸發(fā)功能實(shí)現(xiàn)快速的全光譜測(cè)量。
高精度儀器專為高精度應(yīng)用場(chǎng)合設(shè)計(jì)，通過(guò)科學(xué)級(jí)制冷型陣列探測(cè)器和精密光柵改良設(shè)計(jì)，匹配度更高，再配以精密的光學(xué)系統(tǒng)和電子線路，同時(shí)采用多項(xiàng)專利技術(shù)，從而可以實(shí)現(xiàn)儀器的高分辨率、高靈敏度和低噪聲，達(dá)到數(shù)據(jù)的精確測(cè)量。
高重復(fù)性和穩(wěn)定性儀器無(wú)機(jī)械運(yùn)動(dòng)掃描機(jī)構(gòu)，再采用恒溫制冷技術(shù)，將環(huán)境溫度的影響控制在±0.05℃的水平，測(cè)量的重復(fù)性和穩(wěn)定性極高。
超高靈敏度HAAS-2000/3000經(jīng)系統(tǒng)匹配改造設(shè)計(jì)的高精密光柵和HAMAMATSUTE-制冷陣列探測(cè)器，將儀器的靈敏度提升至0.01mcd，處于世界領(lǐng)先水平。
