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方/HAAS-1200 精密快速光譜輻射計(jì)（高等工業(yè)級(jí)）.png)
| 型號(hào) | HAAS-1200 | ||||||||
| 波長(zhǎng)范圍 | 380nm~1000nm | ||||||||
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 0.3nm | ||||||||
| 半峰帶寬 | 2.8nm | ||||||||
| 色品坐標(biāo)準(zhǔn)確度 | 0.003(標(biāo)準(zhǔn)色光下) | ||||||||
| 光譜線性 | 0.01 | ||||||||
| 積分時(shí)間 | 9ms~100s | ||||||||
| 光通量測(cè)量范圍 | 0.01~200,000lm(需適當(dāng)積分球配合) | ||||||||
| 光度準(zhǔn)確度 | 一級(jí) |
高速、高可靠性、極高產(chǎn)品性價(jià)比基于HAAS-2000核心技術(shù)的高等工業(yè)產(chǎn)品，屬于高精度快速光譜輻射計(jì)產(chǎn)品家族，具有高速、高可靠性的特點(diǎn)。
靈敏度高、噪聲低、線性動(dòng)態(tài)范圍寬采用國(guó)際優(yōu)質(zhì)定制光柵和高性能陣列探測(cè)器，陣列探測(cè)器靈敏度高、噪聲低、線性動(dòng)態(tài)范圍寬，參考CIE對(duì)光、色測(cè)量的要求。
光學(xué)系統(tǒng)匹配度更高，雜散光影響極小采用雜散光校正技術(shù)等多項(xiàng)專有技術(shù)，光柵與陣列探測(cè)器光學(xué)系匹配度更高，雜散光影響極小。
