型號 | OLED光色電測試系統(tǒng) | ||||||||
波長范圍 | 不少于380nm-780nm | ||||||||
雜散光(A光源) | 5E-05 | ||||||||
波長準(zhǔn)確度 | 0.3nm | ||||||||
色坐標(biāo)準(zhǔn)確度(x,y) | 0.0003(標(biāo)準(zhǔn)A光源下) | ||||||||
重復(fù)性 | 0.002 | ||||||||
光度線性 | 0.003 |
低雜散光通過改良設(shè)計后高度匹配度的高精度光柵和科學(xué)級制冷型陣列探測器,并利用BWCT技術(shù)和雜散光校正技術(shù),HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
寬線性動態(tài)測量范圍與普通陣列探測器相比,HAAS-2000中的科學(xué)級陣列探測器具有更寬的線性動態(tài)范圍,且光學(xué)匹配改造設(shè)計后,儀器的動態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。此外,SBCT技術(shù)也大輻提高了HAAS-2000的線性動態(tài)范圍。
毫秒級測試速度HAAS-2000不僅可以測量光源的穩(wěn)態(tài)特性,而且可以測量它們瞬態(tài)光學(xué)特性,完全符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。在儀器的靈敏度范圍內(nèi),無論被測光的瞬態(tài)脈沖多快(如小于微秒級),儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實現(xiàn)快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學(xué)級陣列探測器代替機械掃描系統(tǒng),可以在極短的測量時間內(nèi)(毫秒級)完整完成精確測量整個光譜范圍。
科學(xué)級測量精度HAAS-2000專為高精度應(yīng)用場合設(shè)計,通過對世界頂級商用科學(xué)級制冷型陣列探測器和精密光柵進(jìn)行改良設(shè)計,使其更加匹配,再配以精密的光學(xué)系統(tǒng)和電子線路,同時采用多項專利技術(shù),整個系統(tǒng)可以實現(xiàn)高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態(tài)范圍,從而實現(xiàn)精確測量的目的。
獲得多項專利和證書核心光譜儀獲得:國家863計劃研究成果,獲美國專利授權(quán),“中國專利優(yōu)秀獎”,“國家首批自主創(chuàng)新產(chǎn)品”,“國家重點新產(chǎn)品”榮譽。